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NI重磅预测:2017年自动化测试五大趋势展望_13

2019-04-08 09:23栏目:投资
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全球自动化测试领先企业NI,分析了3万5千个样本,对自动化测试的未来趋势进行了展望。

NI从全球超过35000个公司客户获得大量反馈信息,结合自身的研发活动,生成了可供借鉴的定量和定性数据来确定发展趋势。NI联合创始人Dr. James Truchard回顾了过去40年测试测量行业的发展,指出了至今仍影响当今测试组织的市场和技术趋势,同时对未来进行了展望。

NI重磅预测:2017年自动化测试五大趋势展望

1. 优化测试组织

研究显示,测试非常重要,它可以验证产品的性能、缩短开发时间、提高产品质量和可靠性、降低产品召回率,给组织带来了巨大的价值。

电子制造公司的一个新兴趋势是通过产品测试来实现竞争差异化。这导致公司将测试工程从成本中心提升到战略资产。

最近,NI对测试工程领导者的一项全球调查证实了这一转变,这些测试工程领导者表示,他们在未来一到两年内的首要目标是重组其测试组织结构,以提高效率。这种战略调整将有助于降低质量成本,并通过更快速将更好的产品推向市场来影响公司的利润。

NI重磅预测:2017年自动化测试五大趋势展望

研究表明,当测试工程组织提供整个产品生命周期的集中测试策略时,“优化”是最理想的成熟度等级。这类优化组织会开发标准化测试架构来大量复用组件,实现动态资源利用,并提供系统化企业数据管理和分析,从而对整个公司的业务产生影响。

据NI研究,做出这种转变的公司必须采用长期的战略,一般需要三到五年才能开始展现效益。一个公司必须有一个严谨创新的投资策略,通过四个成熟度阶段来改变测试组织:适应、被动、主动和优化。

当测试工程组织变成战略资产时,就需要开始创建标准测试平台,开发有价值的测试相关知识产权,同时降低运营成本,通过持续提高产品利润、质量和上市时间来匹配业务目标。

2. 可重配置仪器

不断出现的新技术和测试方法开始要求硬件必须具有可重配置性才能满足性能要求,一个例子是测试现代RF接收器,其中编码/解码、调制/解调、打包/解压和其他数据密集型任务需要在待测设备(DUT)的一个时钟周期内完成。用户可编程仪器创建了这样一种架构:数据可以在FPGA上实时操作和/或由主机处理器集中处理。

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FPGA是使这些成为可能的关键,因为它结合了ASIC和基于处理器的系统的优势。FPGA是可重新编程的硅芯片,可以完全重新配置,在采用其他电路配置进行重新编译后立刻具有新的功能。

除了用户可编程,FPGA还提供硬件定时的执行速度以及高确定性和可靠性。随着测试工程师继续寻找创新的方法来减少测试时间和系统成本,可重配置仪器将不断被主流应用所采用。

3. 以软件为中心的生态系统

在测试和测量行业,经常会有跨行业协作。测试测量行业中最成功的例子便是以软件为核心的生态系统。

一个非常有用的生态系统可帮助我们与仪器之间交互——可互换的虚拟仪器(IVI)驱动程序。通过在应用程序编程接口层面提供一个通用方法来与多个供应商的类似仪器通信,IVI基金会减少用户的学习曲线和供应商的开发周期。

这为第三方创建驱动程序、容纳这些驱动程序的聚集网站、以及基于这些驱动程序的抽象层打开了大门。如果采用精心构建的硬件抽象层,为几十年前设计的系统插入技术不仅成为可能,而且将成为例行工作。为实现这一目标,基于标准化的生态系统是至关重要的。

NI重磅预测:2017年自动化测试五大趋势展望

接下来的三至五年,自动化测试系统以软件为中心的趋势将显著增加,生态系统将对用户从这些平台获得的价值产生更大的影响。仪器通信和抽象FPGA 编程示例只是自动化测试生态系统的开始。由于软件供应商能够更好地利用其生态系统及为第三方IP利用商业化模型,移动设备的发展将对测试和测量行业产生变革性影响。

4. 管理测试系统

负责维护测试系统正常运行的测试经理正在为测试设备寻求更优化的可管理性功能,可管理性包括识别和监控计算系统所需的一系列功能。得益于信息技术(IT)行业的丰富资源,可管理性功能可确保系统组件的更新、健康以及满足性能预期,从而提高测试系统执行其主要任务(测试和测量)的能力。测试工程师和操作员在开发、部署以及运行测试系统时也会获益于可管理性功能。

NI重磅预测:2017年自动化测试五大趋势展望

测试经理将大大获益于可管理性功能的优化,比如通过高效诊断和解决问题来降低测试系统的集成风险,尤其是大型的复杂测试设备和位于偏远位置的测试设备。此外,测试经理还可确保以快速、可重复的方式管理首个和后续测试站的部署,从而最快速实现测试系统的价值。

可管理性功能有助于实现主动监测和诊断问题,将计划外中断转换为计划内中断,因而降低了测试系统的总体拥有成本,未来几年这些功能也将在测试系统中发挥越来越大的作用。

5. 由必然性驱动

与物理测试和现场测试相比,HIL测试能够以更低成本和更短的时间满足不断增加的测试需求。借助这种方法,企业能够使用数学模型动态模拟真实环境,从而为待测控制器提供闭环反馈。随着控制器功能的增加、测试用例的增加以及现场或测试车间对缩短测试时间的需求增加,HIL测试的价值日益凸显。

斯巴鲁工程师使用开放、灵活的FPGA模块,通过配置处理节点和I/O节点大大缩短了通信时间。他们将繁重的计算任务转移到FPGA上,并在其系统上为极端场景进行HIL测试。与物理测试相比,斯巴鲁的HIL测试平台提供了更低成本、更全面且更快速的测试。

NI重磅预测:2017年自动化测试五大趋势展望

嵌入式控制器功能的不断增加进一步推动了创新,安全法规将进一步完善来确保更高的用户安全性。测试经理需要采用先进的HIL测试技术和新技术。这可确保系统工程团队在行业法规的指导下开发出更高级的产品来提供更高安全性,同时测试平台也仍然可以满足关键的成本和时间要求。

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